Compass™

小径レンズ測定システム

ZYGOのCompass™ システムは、自動車用ビジョンシステム、スマートフォンやタブレット用のカメラなどのコンパクトなイメージングシステムに欠かせない小径レンズやその金型の、非接触3D表面測定とプロセス制御を可能にします。

お客様の測定ニーズに応じて、Compass™システムには2つのモデルがあります。

  • Compass – マイクロレンズの表面形状と偏差、トポグラフィ、およびリレーショナル/ディメンションの精密測定のためのZYGOの高度なソリューション。これは、球面または非球面マイクロレンズとそのアライメント機能の特性評価が必要な用途に最適です。
  • Compass RT計測システムCompass RT – マイクロレンズのリレーショナル/ディメンションの精密測定と、一般的な形状測定用途のための高速かつ柔軟なシステム。これは、形状偏差測定が必要ない場合に最適な選択肢です。

強力な解析ソフトウェア

Compassシステムには、データ取得、解析と視覚化、および機器の自動操作の機能を提供する、ZYGOのMx™ ソフトウェアが装備されています。Compassシステムの多機能アーキテクチャは、モールドピンや小径レンズなど、さまざまな部品やパラメータの測定に対応します。

  • 詳細
  • パンフレットと
    仕様シート
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  • マニュアル
  • 技術文書
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実績のあるテクノロジー

Compassシステムの中核を成しているのは、業界をリードする精度と汎用性と速度、再現性の高い測定を実現する、垂直走査低コヒーレンス干渉法 (CSI) に基づくZYGOの光学プロファイラ技術です。Compass™とCompass™ RTに固有の機能は、非球面形状と偏差の測定、リレーショナル/ディメンション測定です。

形状と偏差

  • 球面または非球面レンズおよび金型の表面形状の非接触全表面3Dマッピング
  • 数百万のデータポイントを使用した、サブナノメートルの高さ精度の表面形状と偏差
  • 設計からの形状偏差の高度な解析
  • 非対称性を素早く自動的に解析
レンズからデータムへの特性化

リレーショナル測定とディメンション測定

  • 片面または両面レンズの定量的測定と解析
  • 各データム解析とレンズ部から各データムの解析
  • 偏芯インターロック径
  • 環状部の平坦度、厚み、平行度とウェッジ
  • レンズ頂点の高さ、偏芯、中心の厚み、および頂点から頂点への偏芯
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Compass™ 取扱説明書
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Compass™ RT 取扱説明書
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光学プロファイラ用アクセサリガイド (NewView 8/9000と Nexview/NX2用)
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Mx™クイックスタートガイド
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Mx™参照ガイド
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Mx™リモートアクセスガイド
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Mx™表面テクスチャパラメータ
題名
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Compass™ 取扱説明書
DocumentOMP-0612A
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Compass™ RT 取扱説明書
DocumentOMP-0613A
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光学プロファイラ用アクセサリガイド (NewView 8/9000と Nexview/NX2用)
DocumentOMP-0594J
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Mx™クイックスタートガイド
DocumentOMP-0570D
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Mx™参照ガイド
DocumentOMP-0550D
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Mx™リモートアクセスガイド
DocumentOMP-0600A
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Mx™表面テクスチャパラメータ
DocumentOMP-0608C
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信頼性の高いエンジン軽量化を可能にする3D光学プロファイラ
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3D干渉顕微鏡法向けの新しいクラスの広視野対物レンズ
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偏向のある圧電アクチュエータからの正確で反復的な直線運動
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エネルギー効率を高める高度な計測
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光学計測の進歩
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コヒーレンススキャン干渉法による表面膜の角度分解三次元分析
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コヒーレンススキャン干渉法を使用したモデルベースの透明表面膜分析の応用
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波長標準を用いた干渉顕微鏡法の増幅係数の較正
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信頼性の高いエンジン軽量化を可能にする3D光学プロファイラ
Document記事
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3D干渉顕微鏡法向けの新しいクラスの広視野対物レンズ
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偏向のある圧電アクチュエータからの正確で反復的な直線運動
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エネルギー効率を高める高度な計測
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光学計測の進歩
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コヒーレンススキャン干渉法による表面膜の角度分解三次元分析
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コヒーレンススキャン干渉法を使用したモデルベースの透明表面膜分析の応用
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波長標準を用いた干渉顕微鏡法の増幅係数の較正
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非球面の光学測定における課題とソリューション
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白色光光学プロファイラを用いた正確な表面トポグラフィ測定のための材料とフィルムスタックの特性評価
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